Share:


Modeling of defects in electronic navigation devices operating in extreme conditions

    Alexander Bogorosh Affiliation
    ; Sergey Voronov Affiliation
    ; Sergey Larkin Affiliation
    ; Vladimir Karachiun Affiliation
    ; Nikolaj Vishniakov Affiliation
    ; Jurij Novickij Affiliation
    ; Danutė Ščekaturovienė Affiliation

Abstract

An investigation of the corrosive and mechanical destruction of microelectronic objects such as multipurpose sensors and navigating devices used in the airspace industry in extreme conditions such as variable temperature, pressure and environmental composition is described. The appearance and growth of micro cracks and other defects in metallic parts and conductors of micro devices due to external actions are investigated. The structural features of defect‐testing devices improved on the basis of magnetic modulation sensitive iron elements are analyzed. Mathematical modeling for the most characteristic types of defects is performed and the forecast growth of defects within 6 % accuracy is achieved.


Defektų modeliavimas navigacijos elektroniniuose prietaisuose, eksploatuojamuose ekstremaliomis sąlygomis


Santrauka. Atlikti mikroelektronikos objektų, eksploatuojamų ekstremaliomis sąlygomis bei esant kintamoms temperatūroms, slėgiui, darbinės aplinkos sudėčiai, irimo tyrimai, tarp jų – mikroįtrūkimų ir kitų defektų atsiradimo bei augimo mikroprietaisų metalinėse dalyse ir laidininkuose. Pagerinti prietaisų, gaminamų fero-moduliacinių elementų pagrindu ir skirtų mikroprietaisų defektų kontrolei, konstruktyviniai sprendimai. Sudarytas matematinis modelis, leidžiantis analizuoti būdingiausių rūšių defektus ir iki 6 % tikslumu prognozuoti defektų plitimą.


Reikšminiai žodžiai: defektų detektavimas, mikroįtrūkimas, matematinis įtrūkimų modeliavimas.


First Published Online: 14 Oct 2010

Keyword : defect detection, micro crack, mathematical fracture modeling

How to Cite
Bogorosh, A., Voronov, S., Larkin, S., Karachiun, V., Vishniakov, N., Novickij, J., & Ščekaturovienė, D. (2008). Modeling of defects in electronic navigation devices operating in extreme conditions. Aviation, 12(1), 3-9. https://doi.org/10.3846/1648-7788.2008.12.3-9
Published in Issue
Mar 31, 2008
Abstract Views
441
PDF Downloads
359
Creative Commons License

This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 International License.